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功率半导体器件的动、静态参数检测服务
- ￥: 1.00元/件
- 起订量：1 件
- 可售数量: 100 件
- 支持批量采购
- 发布时间：2024-05-08 16:48
产地：陕西省 西安市 雁塔区 | 归属行业：参数测试仪器
品牌：长禾实验室
有效期至：长期有效
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- 品牌：长禾实验室
- 产地：陕西西安
- 供货总量：100 件
- 发货期限： 自买家付款之日起 3 天内发货
- 所在地：陕西省 西安市 雁塔区
西安长禾半导体技术有限公司功率器件测试实验室(简称长禾实验室)位于西安市高新技术经济开发区，是一家专业从事功率半导体器件测试服务的高新技术企业，是**CNAS 认可实验室，属于**大功率器件测试服务中心。
长禾实验室拥有**的系统设备、专业的技术团队和完善的服务体系。实验室现有的测试仪器设备100余台套，专业测试人员20余名。我们紧跟国际国内标准，以客户需求为导向，不断创新服务项目和检测技术，借助便利的服务网络，为合作伙伴提供优质高效的技术服务。
长禾实验室专注于功率半导体器件的动、静态参数检测、可靠性检测、失效分析、温循试验、热阻测试等领域的技术服务。业务范围主要涉及国内轨道交通、风力发电、科研单位、军工院所、工业控制、兵器船舶、航空航天、新能源汽车等行业。也是第三代半导体（宽禁带半导体）应用解决方案服务商。
长禾实验室秉承创新务实的经营理念，为客户提供优质的服务、完善的解决方案及全方位的技术支持；同时注重与行业企业、高校和科研院所的合作与交流，测试技术与服务水平不断提升。
诚信立世，感恩回馈，欢迎选择长禾实验室做您忠诚的合作伙伴，共谋发展大计！
长禾相关检测标准 GJB360B 电子及电气元件试验方法 温度冲击试验 GB/T 2423.11电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Fd:宽频带随机振动--一般要求 GJB 360A 电子及电气元件试验方法 GJB 1420A 半导体集成电路外壳总规范 GJB 128A 半导体分立器件试验方法 GJB 3157 半导体分立器件失效分析方法和程序 GJB 3233 半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB 548A 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B 微电子器件试验方法和程序 GJB 5914 各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法 GJB128A 半导体分立器件试验方发方法1071密封 GB/T17574半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 GJB597A 半导体集成电路总规范 GB/T6798半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T4587半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4586半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4023 半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T2693 电子设备用固定电容器 前列部分：总规范 GB/T5729 电子设备用固定电阻器 前列部分：总规范 GJB1217A 电连接器试验方法等。 |
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